Beam R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪

Beam R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪

Beam R2 是 DataRay 推出的紧凑型 XY 扫描狭缝式光斑分析仪，依托 True2D™正交狭缝扫描方案，专为微小激光束高精度剖面检测设计，测量标准符合 ISO11146 光束质量规范，分辨率优于相机型光斑分析仪，是聚焦光斑、细光束检测的优选设备。

设备搭载 2.5μm 标准狭缝与刃边狭缝两种结构，刃边模式下最小可测 2μm 微光束，常规测量范围覆盖 5μm–4mm；提供 Si、InGaAs、扩展 InGaAs 探测器可选，光谱覆盖 190–2500nm，适配紫外、可见光、近红外连续光与高重频脉冲激光。采样分辨率可达 0.1μm，实时输出 X/Y 二维强度剖面、光斑质心、椭圆度、束径等参数，支持线性 / 对数显示、剖面缩放与狭缝补偿校正，数据稳定可靠。

整机为 USB2.0 供电，无需外接电源适配器，标配 3 米连接线，即插即用，体积小巧便于集成到光学平台、产线工位。选配 M² 测量模组后，可拓展光束传播因子、发散角、焦点位置测试能力。广泛应用于光纤耦合、半导体激光器、医疗激光、激光打标、光学装调对准、科研光路验证等场景，适合实验室研发、批量产线检测与现场光路调试，兼顾高精度与高性价比。

特点

190至1150 nm，硅探测器

650至1800 nm，InGaAs检测器

1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）检测器

光束直径为5 µm至4 mm，在Blade模式下为2 µm

端口供电的USB 2.0;

0.1 µm采样和分辨率

M²选项–光束传播分析，发散，聚焦

应用

激光印刷和打标

医用激光

二极管激光系统

光纤电信组件组装聚焦– LensPlate2™选件用于波导和光纤末端重新成像

使用可用的M2DU平台进行M²测量

参数：

Beam R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪