销售咨询热线：
010-62566138
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪
DataRay BeamMap2 是多 Z 面旋转狭缝式光斑分析仪，支持实时 XYZΘΦ 五维光束诊断，无需电动位移台，依靠旋转盘上多组 XY 狭缝，同步采集沿光轴 4 个位置的光斑剖面，快速输出束腰位置、光斑直径、发散角、指向漂移、M² 因子等参数，适合连续与准连续激光的在线监测与光路调校。
探测版本丰富，硅探测器覆盖 190–1150nm，铟镓砷版本支持 650–1800nm，扩展型 InGaAs 可延伸至 2500nm，适配紫外、可见光、近红外光源。狭缝采样分辨率可达 0.1μm，可测量 5μm–4mm 光束，刀刃模式下最小可测 2μm 光斑，动态范围优于相机型光斑仪，弱光、强光场景均可稳定采集。整机 USB2.0 供电，无需额外电源适配器，结构紧凑小巧，便于安装在光学平台或者集成到设备内部。
配套专业分析软件，实时输出 X/Y 束腰、瑞利长度、像散、光束指向角 θΦ，同步拟合 M² 曲线，对焦位置重复精度可达 ±1μm，刷新率 2–10Hz 可调。True2D 蓝宝石狭缝工艺稳定，长期使用不易磨损，支持自动增益调节，简化不同功率激光的测试流程。可选配件满足 ISO11146 标准 M² 完整测量需求。
该设备大幅简化激光准直、扩束镜调试、聚焦光路优化流程，省去反复移动诊断头的迭代操作。广泛用于超快激光种子源、半导体激光器、激光加工光路、流式光学系统、激光打印、精密对准等场景，兼顾实验室光路调试、产线批量校准与仪器 OEM 配套，是实时多维度光束表征的高效诊断方案。
特点
190至1150 nm，硅探测器
650至1800 nm，InGaAs检测器
1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）检测器
光束直径〜100 µm至〜3 mm（扩展的InGaAs为1.5 mm）
实时±1 mr实时散度和指向测量精度
USB 2.00.1 µm采样和分辨率
实时多Z面扫描狭缝系统
实时XYZ轮廓，焦点位置
实时M²，发散，准直，对准
应用
激光印刷和打标
医用激光
二极管激光系统
光纤电信组件组装聚焦– LensPlate2™选件用于波导和光纤末端重新成像
开发，生产，现场服务
参数：
波长 | Si detector: 190 to 1150 nm |
可测光斑尺寸 | Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode |
平面间距 (4XY) | 100 µm: -100, 0, +100, +400 µm |
平面间距 (3XYKE) | 50 µm: -50, 0, +50, 0 µm |
光斑束腰直径测量 | Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat |
光斑束腰位置测量 | ± 20 µm best in X, Y, and Z — contact DataRay for recommendation |
可测光源 | CW; Pulsed lasers, F µm = [500/(PRR in kHz)] |
分辨率/精度 | 0.1 µm or 0.05% of scan range |
M² 测量 | 1 to > 20, ± 5% |
发散角/准直,指向性 | 1 mrad best — contact DataRay for recommendation |
最大功率 & 辐照度 | 1 W Total & 0.5 mW/µm² |
增益范围 | 1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range |
显示图形 | X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16 |
更新速率 | ~5 Hz |
XY轮廓和质心 | Beam Wander display and logging |
电脑硬件要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪
手机
微信扫一扫
联系我们
在线留言