BladeCam-HR/XHR CMOS 光斑分析仪

BladeCam-HR/XHR CMOS 光斑分析仪

BladeCam‑HR/XHR 是 DataRay 紧凑型 CMOS 光束轮廓分析仪，为连续激光二维光斑成像检测设计，无窗传感器可规避干涉条纹干扰，符合 ISO11146 光束测量标准，兼顾便携性与成像精度，是光路装调、光束质控的主流相机式光斑分析设备。

HR 与 XHR 两款形成梯度配置：BladeCam‑HR 像素 5.2μm，1280×1024（1.3M 像素），感光面 6.6×5.3mm；BladeCam‑XHR 为超高分辨率版本，像素 3.2μm，2048×1536（3.1M 像素），感光面 6.5×4.9mm，适合更小聚焦光斑成像。标配光谱 355–1150nm，可选 UV 版本覆盖 190–1150nm、1310nm 近红外版本，适配紫外、可见光、近红外连续激光检测。

搭载 10 位 ADC 与 HyperCal™动态噪声基线校正技术，信噪比可达 1000:1；电子自动快门 40μs–1000ms，动态范围充足。整机 USB3.0 供电，无需外接电源，标配带锁 3 米数据线，体积小巧，可直接固定在光学平台或集成到产线。传感器支持现场更换，选配 M2DU 位移台，可拓展 M² 因子、发散角、焦点位置、光束漂移记录等测试功能。

配套无版权费的专业分析软件，实时输出光斑二维强度图、束径、质心、椭圆度、圆度等参数，支持数据记录与二次开发接口。广泛应用于半导体激光器、光纤耦合、科研光学调试、激光设备巡检、产线来料质检等场景，适合需要直观二维光斑图像、兼顾成本与分辨率的测量需求。

特点

355-1150 nm(标准)，335-1350nm，

1480-1605nm(UHR)，190-1150nm(XHR)

S-BC-UHR ：1280 x 1024，6.6 x 5.3 mm， 5.2 µm

S-BC-XHR ：2048 x 1536， 6.5 x 4.9 mm，3.2 µm

USB 2.0接口;

25,000：1电子自动快门，40 µs至1000 ms

1,000：1 SNR（30/60 dB光学/电气）

M²选项–光束传播分析，发散，聚焦

应用

CW 激光轮廓

激光器和基于激光器的系统的现场服务

光学组件和仪器对准

使用可用的M2DU平台进行M²测量

尺寸图：

BladeCam-HR/XHR CMOS 光斑分析仪