WinCamD-UHR/XHR CMOS光束分析仪

WinCamD-UHR/XHR  CMOS光束分析仪

WinCamD-UHR/XHR 是 DataRay 超高分辨率 CMOS 光束轮廓分析仪，主打小聚焦光斑精密成像，测量符合 ISO11146 光束质量标准，是连续激光微光斑检测的高性价比机型，UHR 与 XHR 形成梯度分辨率配置。

WinCamD-UHR 为 1280×1024（1.3M 像素），像素 5.2μm，感光面 6.6×5.3mm；XHR 为超高分辨版本，2048×1536（3.1M 像素），像素仅 3.2μm，感光面 6.5×4.9mm，最小可直接测量 32μm 微光斑，适合聚焦后细小光束表征。标准光谱覆盖 355–1150nm，可选 UV 版本拓展至 190–1150nm、1310nm 近红外版本，适配紫外、可见光、近红外连续激光器。搭载 10 位 ADC 与 HyperCal™动态基线校正技术，标配无窗传感器，消除窗口干涉条纹，信噪比可达 1000:1，电子快门 40μs–1000ms，成像干净稳定。

整机 USB2.0 供电，无需外接电源，搭配带锁 3 米数据线，机身小巧易固定在光学平台，传感器支持现场更换。选配 M²DU 电动位移台，可拓展 M² 因子、光束发散角、焦点位置、光束漂移等传播特性测试。配套免费无版权专业分析软件，实时输出二维光斑强度分布、束径、质心、椭圆度、圆度等参数，支持光束数据记录、多光束同步追踪与二次开发接口，可接入自动化测试系统。

该机型凭借极小像元、高分辨率优势，广泛应用于半导体激光、光纤耦合、微加工光路装调、科研激光实验、激光系统现场调试与产线光束质控，适合对微小光斑成像精度有较高要求的场景。

特点

355-1150 nm(标准)，335-1350nm，

1480-1605nm(UHR)，190-1150nm(XHR)

S-WCD-UHR ：1280 x 1024，6.6 x 5.3 mm， 5.2 µm

S-WCD-XHR ：2048 x 1536， 6.5 x 4.9 mm，3.2 µm

USB 2.0接口;

25,000：1电子自动快门，40 µs至1000 ms

1,000：1 SNR（30/60 dB光学/电气）

M²选项–光束传播分析，发散，聚焦

应用

CW 激光轮廓

激光器和基于激光器的系统的现场服务

光学组件和仪器对准

使用可用的M2DU平台进行M²测量

参数

尺寸图：

WinCamD-UHR/XHR  CMOS光束分析仪