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DataRay M2仪 光束质量分析仪
DataRay M² 仪是美国 DataRay 研发制造的专业激光光束质量计量仪器，严格遵循 ISO11146 国际标准，用于对连续激光、脉冲激光进行光束质量 M² 因子及全套光束参数定量检测，广泛应用于激光器研发、光学装配调试、激光生产出厂检验、科研光学实验等场景，属于光学计量类核心检测设备，系统由光束探测单元、高精度电动平移台 M2DU 与专业光束分析软件组成，模块化架构可根据用户波段、光斑大小灵活选配，是激光行业认可度很高的光束质量检测方案。
位移台搭载BeamR2扫描刀口分析仪
整套 M2 测量系统可自动采集并输出全套光束参数：M² 因子（X/Y 两个正交方向）、束腰直径、束腰位置、光束发散角、瑞利长度、光束椭圆度、光强分布轮廓、光斑质心指向稳定性、D4σ/D86/D63 光束宽度、峰均比、光强均匀度等关键指标。波长覆盖范围广，基础版本 190nm~2.5μm，红外扩展型号可达 16μm，覆盖深紫外、可见光、近红外、中远红外波段，适配光纤激光器、半导体激光器、固体激光器、量子级联激光器等主流光源。硬件配置：M2DU 电动平移台提供 50mm/200mm 两种行程可选；狭缝式 Beam’R2 型号最高空间分辨率 0.1μm，最小可直接测量光斑低至 2μm；WinCamD 相机型探测器采用 CMOS/CCD 感光芯片，USB3.0 高速数据传输，支持 TTL 外触发，适配脉冲激光同步采集。标准自动化 M² 全流程测量仅需 1~2 分钟，多平面实时测量型号 BeamMap2 可瞬时输出 M² 结果，适合在线快速调机优化。
M2仪需要选配的项
1， Lens + 2，Camera +3, Stage + 4, Accessories
符合 ISO11146 计量标准，测量结果可溯源系统采用二阶矩算法计算光束直径与 M² 因子，满足国际激光光束质量测量规范，整套仪器支持第三方计量校准，出具的检测报告可用于产品验收、科研论文数据，是光学计量实验室常用设备。Beam’R2 狭缝探测方案相比面阵相机，在极小聚焦光斑测量场景下优势突出，规避相机像素采样带来的测量误差。
模块化灵活配置，适配多样化激光测试场景DataRay 提供两套主流方案：相机型 M2DU-WCD，通用性强，可同时输出二维光斑图像；狭缝型 M2DU-BR，针对微小光斑、红外光束。用户可按需选择衰减取样配件，搭配衰减组件可测试高功率激光器，衰减件损伤阈值符合 ISO11254 标准。软件支持多光束同时识别，单探测器最多可同时追踪 8 束激光。
配套分析软件，支持二次开发原厂配套光束分析软件，支持实时二维 / 三维光强分布图、M² 拟合曲线可视化，可一键导出 PDF 检测报告，自动保存全部测量数据。软件开放接口，兼容 LabVIEW 等第三方程序，方便集成到自动化产线、光学测试平台，软件支持升级，持续新增测量算法与功能模块DataRay In...。
稳定性强，使用寿命长整机美国原厂生产，提供 3 年质保，重复测量精度优异，具备良好的抗环境杂光干扰能力。支持 USB 供电，安装便捷，无需复杂光路调试；BeamMap2 多平面版本无需移动平移台，一次性采集多个 Z 轴位置光束数据，适合激光准直、光学镜头装配实时调校，快速锁定焦点位置，焦点定位重复精度可达 ±1μm，大幅缩短光学装调时间。
该 M2 光束质量分析仪应用场景覆盖科研院所光学实验室、激光设备制造、半导体激光封装、光纤激光生产、激光加工设备验收、非线性光学、激光雷达光学系统调试等。在激光器出厂质检环节，M² 因子是衡量激光光束聚焦能力的核心指标，DataRay M2 仪能够客观量化光束偏离理想基模高斯光束的程度，评估激光器性能优劣；在光学系统装配调试中，可实时监测光束指向、束腰位置变化，辅助光学元件装校，优化光路。
对于需要出具正式计量报告、激光器出厂验收场景，优先选用搭载 M2DU 电动平移台的 ISO11146 标准自动化测量系统；若以研发调试、在线实时优化光束为主要需求，可选用 BeamMap2 多平面实时 M² 测量方案，快速查看光束参数变化。针对远红外波段或者极小聚焦光斑，优先选择 Beam’R2 狭缝式光束质量分析仪方案。
DataRay M2仪 光束质量分析仪
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