Duma M2光束质量分析仪

Duma M2光束质量分析仪

Duma Optronics M2 Beam 系列是依据 ISO11146 标准设计的全自动光束传播分析仪，用于精准测定激光 M² 因子，同时完成束腰直径、束腰位置、发散角、瑞利长度、像散、光斑不对称性等光束特征参数检测，支持连续激光与脉冲激光测量。

产品分为刀刃扫描式与相机式两种探测架构，覆盖 190nm 紫外至 2.7μm 短波红外宽波段，提供 Si、UV、InGaAs 等多款探测版本；常规型号适配微瓦至瓦级光源，HP 高功率版本最高可支持 4kW 激光输入，最大可测光束口径可达 25mm。自研折叠腔光学结构，测量光路紧凑，无需复杂位移台调试，搭载配套上位机软件，可自动采集光场、拟合光束传播曲线，快速输出标准化测试报告。

刀刃款采用七刃扫描探头，动态范围大，适合强光、高脉冲能量场景；相机款内置滤光轮，可自动衰减，适合弱光、精细光斑成像分析。整机通过 USB 通讯，即插即用，支持长时间连续监测，M² 测量重复性稳定，可捕捉激光器运行中光束质量的缓慢漂移。设备外壳结构坚固，适配光学平台安装，支持 OEM 集成定制。

广泛用于超快飞秒 / 皮秒激光器、固体激光器、光纤激光器、半导体种子源的研发标定、出厂质检与长期稳定性监测，适配激光加工、精密光谱、激光雷达、科研光学平台等场景，是激光研发与产线质控中成熟可靠的光束诊断方案。

测量激光束M2值、束腰大小、位置、功率和光强分布

能够显示沿主轴传输的3D光束尺寸图像

性能参数：

测试精度：

V 轴：±50μm

W轴：±50μm

Z轴：±50μm

M2值：±10%

软件截屏：

订购详情：

M2Beam-Si – attachment for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – attachment for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – attachment for silicon range (800 – 1800nm)

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams.

Duma M2测量仪