扫描狭缝光斑分析仪主要用于测量激光光束的光斑尺寸、能量分布、发散角及M²因子等关键参数，适用于激光加工、光纤通信等领域的光束质量检测。
扫描狭缝光斑分析仪通过移动狭缝扫描光斑并测量光强分布，能够准确获取光斑的轮廓、能量分布及关键参数(如光束宽度、峰值中心、椭圆率等)。以下是其核心特点、应用场景及选购建议的详细分析：
主要功能：
小光斑测量能力：在测量微米级光斑时，扫描狭缝式分析仪具有明显的优点。相机式因像素尺寸限制，无法准确捕捉小光斑细节，而扫描狭缝式通过逐点扫描可完整还原光斑形貌。
高功率测试稳定性：相机式光斑分析仪需通过衰减片降低功率以避免饱和，而扫描狭缝式直接测量狭缝处光强，无需额外衰减，简化了操作流程并提高了测试稳定性。
复杂光斑处理能力：对于非高斯分布或含高阶横模的光斑，相机式可通过像素阵列同时接收并反馈光斑形态，而扫描狭缝式在狭缝方向上累加光功率会导致细节丢失。但通过优化扫描策略(如多方向扫描)，扫描狭缝式仍可部分弥补这一缺陷。
工业制造应用
激光加工：监控激光切割、焊接、打标等过程中的光束质量，确保加工精度和效率。
光学元件检测：评估透镜、反射镜等元件的制造质量，检测偏心度和表面光滑度。
科研领域应用
光束特性研究：分析光束的空间和时间特性，评估光学器件的非线性效应和光传输衰减。
微观结构观察：用于光学显微镜的微观结构观察和纳米材料分析。
